OXFORD仪器系列
涂层、镀层测厚仪CMI700
详细内容
用途：
用于磁性基材上的非磁性镀层、导性基材上的非导性镀层、磁性基材上的电镀层。
特征：
可利用扫描方法来测量不均匀的基材，这可提高得率和再现率。
大型液晶，高对比度显示器，可以从较远的距离可以及各个角度观察颜观色到屏幕显示的内容。
菜单操作界面以及软钥
统计结果及统计图可被显示或被打印。
可存放8000字节，永久存储。
人体工学化设计。
有种种测试探头可供选择。
英寸或微米的单位选择。
牛津仪器独有的数据统计和报告生成系统使您能够方便的定制属于您自己的质量检测报告。
技术参数：
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探头类型
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应用范围
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测量范围
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测量精度
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ETP
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孔铜厚度测量
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2.036～101.6μm
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±5%
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SRP-4
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面铜厚度测
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0.762～245μm
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±3%
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TRP-4
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微孔孔铜厚度测量
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2.036～101.6μm
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±5%
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ECP（ECP-M）
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非导电膜（绿油）厚度测量
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0～1016μm
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±5%
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相关下载：涂镀层测厚仪CMI700中文样本