金相分析系统系列
爱思达金相显微镜JX32
详细内容
用途：
用于IC元件，金相切片等微小尺寸的测量及分析
特征：
金相显微镜适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物资。如金属陶瓷、集成块，印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。同时也是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
易学易用，可轻松实现点到点、线到线、圆弧、半径、直径、角度、等相关尺寸的精确测量与分析。
轻松拍摄测量图片并自定义各种测试报告。
技术参数
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产品型号
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JX22
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JX32
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JX42
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类型
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正置
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倒置
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光学放大倍率
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50X～600X
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50X～800X
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50X～1000X
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电子放大倍率
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90X～1080X
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90X～1440X
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105X～2100X
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目镜（大视野）
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10X
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物镜（平场消色差）
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50X、10X、40X、60X、
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5X、10X、20X、40X、80X
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5X、10X、40X、100X
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照明系统
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反射及落射照明，6V20W，卤素灯，亮度可调节，带起偏振器
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落射照明6V20W，卤素灯，亮度可调节，带起偏振器
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CCD 型号
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DLCW
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CCD摄像机
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130 万像素
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测量精度
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±0.0006mm
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