OXFORD仪器系列
CMI900X荧光镀层测厚仪
详细内容
CMI900用于涂层、镀层厚度、（印制线路板之金/镍、锡/铅、锡/银等）的非破坏性精确测量及材料成分分析，测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987。
用途：
多镀层金属厚度测
合金鉴定及化学分析
电镀液分析
金成色分析
特征：
应用X射线荧光原理测量，精确度高且不破坏样品。
NIST（美国国家标准和技术学会）认可的标准片。
CMI900系列膜厚测试仪能够测量多几种形状，各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025×0.051毫米。
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选择用，分别为：标准样品台，XY轴固定，Z轴自动控制；扩展型标准样品台，XY轴固定，Z轴自动控制；可调高度型标准样品台，XY轴手动控制、Z轴自动控制；程控样品台，XYZ轴自动控制；超宽程控样品台，XYZ轴自动控制。
技术参数：
|
项目
|
规格
|
|
测量元素
|
22（TI）-92（U）
|
|
测量层数
|
5层（4层镀层+基材层）
|
|
X射线管功率
|
50W
|
|
X射线管靶材
|
钨
|
|
最大可安装准直器数量
|
6个
|
|
外形尺寸
|
305×711×356mm(标准台)
|
|
381×978×610mm（程控台）
|
|
|
重量
|
75kg
|
相关下载：CMI900镀层测厚仪中文样本
上一条:CM95手持式测厚仪
下一条:没有了
下一条:没有了